Rasterelektronenmikroskopie

Die Rasterelektronenmikroskopie bietet umfassende Möglichkeiten der Bildgebung sowie der chemischen Analytik an nahezu jeder Probenspezies. Dabei werden Vergrößerungen bis 30.000-fach erzielt. Neben metallischen Proben können auch andere Materialien (außer Flüssigkeiten) direkt im Rasterelektronenmikroskop (REM) untersucht werden. Die Niederdrucktechnik ermöglicht die Untersuchung von nichtleitenden Proben ohne Vorbehandlung. Daher ist diese Methode auch für den Formstoffbereich von größtem Interesse. Weiterhin bestehen auch bei der Probengeometrie wenige Einschränkungen. Untersuchungen von Proben bis 20 cm Länge sind ohne Präparation möglich. Durch die gekoppelten mikroanalytischen EDX/WDXUntersuchungen können an den Materialien direkt die chemischen Zusammensetzungen in Ortsauflösung bestimmt werden. Die Automatisierung der Analyse ermöglicht Untersuchungen über einen großen Bereich der Probe ohne Auflösungsverlust. Darüber hinaus werden topographische Untersuchungen, z. B. zur Rauheit oder Kantenmessung durchgeführt.

  • Bruchflächenuntersuchung mittels REM
  • Untersuchung von Lunkern und Gasblasen
  • Beurteilung von verschlissenen Oberflächen
  • Untersuchung von Formstoffen, Filtern und Feuerfestmatarialien
  • Chemische Identifikation mittels EDX ohne Präparation (z. B. nichtmetallische Einschlüsse)
  • Langzeit EDX-Analytik
  • WDX-Untersuchungen
  • Probenpräparation